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ceyear思儀6362C光譜分析儀

簡要描述:

ceyear思儀6362C光譜分析儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術(shù)研制而成。整機(jī)性能指標(biāo)達(dá)到同類產(chǎn)品較高水平。

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ceyear思儀6362C光譜分析儀

產(chǎn)品綜述

ceyear思儀6362C光譜分析儀

6362C光譜分析儀采用*的雙通光柵分光單元、高分辨率衍射光柵定位、光學(xué)楔形延遲消偏振、小信號和寬波段光譜檢測等技術(shù)研制而成。整機(jī)性能指標(biāo)達(dá)到同類產(chǎn)品較高水平。適用于600~1700nm波段范圍的LED、LD、SLD、DFB-LD、EDFA、光纖、光纖光柵、光學(xué)濾波器、光纖放大器、波分復(fù)用器等光電子元器件及有關(guān)系統(tǒng)的測試。

功能特點(diǎn)

主要特點(diǎn)

● 0.05nm小分辨帶寬

● -90 dBm電平測量靈敏度 

● ndB損耗分析

● 包絡(luò)分析

● 測試數(shù)據(jù)存儲輸出

● 激光光源測試

● 光學(xué)濾波器測試

ceyear思儀6362C光譜分析儀

0.05nm小分辨帶寬

    6362C光譜分析儀支持不同光譜分辨帶寬的設(shè)置,寬譜光源與窄譜線光源測試靈活切換。并且小分辨帶寬可達(dá)0.05nm。

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-90 dBm電平測量靈敏度 

通過低噪聲放大、雜散光抑制、數(shù)字濾波等技術(shù),極大地降低了儀器噪聲,提高了信噪比,電平測量靈敏度在1250nm~1600nm波段優(yōu)于-90dBm。

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ndB損耗分析

產(chǎn)品具有強(qiáng)大的分析功能,快速分析光譜參數(shù),儀器自身就能完成復(fù)雜的計算。分析功能包括波峰檢索、閾值分析、損耗分析、邊模分析、包絡(luò)分析、均方根和光功率分析等,滿足您的全部需求。

 

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包絡(luò)分析

 

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測試數(shù)據(jù)存儲輸出

光譜測試數(shù)據(jù)可用.bmp或.osd格式文件存儲和輸出。

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激光光源測試

儀器可以對多類型激光器進(jìn)行一鍵測試與分析,實(shí)現(xiàn)所有測試項(xiàng)目批處理。

 

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光學(xué)濾波器測試

除了半導(dǎo)體激光光源(DFB-LD、FP-LD、LED)光譜測量應(yīng)用外,儀器還集成了光纖偏振模色散測量應(yīng)用、波分復(fù)用應(yīng)用、光纖放大器應(yīng)用、LD模塊應(yīng)用、波分復(fù)用濾波器應(yīng)用、波分復(fù)用光纖放大器應(yīng)用等光譜應(yīng)用功能。

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典型應(yīng)用

LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光譜波形分析

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